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Product Center 半导体KC-3100

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半导体陶瓷件自动上料+八面检测设备

型      号

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功能简介

设备主要应用于检测陶瓷件的缺陷状况,以便提高产品品质。拥有多种检测算法,如:模板匹配、智能侦测、智能识别、亮度抽取、亮度最大值、亮度最小值、偏移检测、角度检测、划痕侦测、短路检测、条码识别等


半导体陶瓷件自动上料+八面检测设备


半导体陶瓷件自动上料+八面检测设备


半导体陶瓷件自动上料+八面检测设备






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您好!上述产品资料仅列举部分主要测试功能,设备全部支持的项目不在此处详细列举,

如需要获取定制方案或公司介绍资料,请您联系

>> 售前咨询电话&微信:梁工 180-3306-9200    

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