功率半导体器件可靠性测试系统
了解更多KC-3105
现代宽禁带功率器件 (SiC, GaN) 上的开关晶体管速度越来越快,使得测量和表征成为相当大的挑战。与 HTRB高温偏置试验一 一对应,AQG324 该规定了动态偏置试验,即动态高温反偏(DHRB,Dynamic high-temperature reverse bias)
电力半导体集成器件IGCT自动测试系统
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IGCT(IntergratedGateCommutatedThyristors)是在晶闸管技术的基础上结合IGBT和GTO等技术开发的新型器件,适用于高压大容量变频系统中,是一种用于巨型电力电子成套装置中的新型电力半导体器件。
多通道绝缘电阻测试设备
了解更多KC3104
设备简介1.产品位置纠偏抓取,自动识别正反;2.自动测试,良品/不良品分类;3.换产只需更换对应的工装;4.仪器功能可拓展;5.绝缘电阻≥1X109/Q,DC500V;生产效率UPH≥300PCS应用行业半导体、IC、PCBA、芯片等产品的自...
多通道瓷件检测设备
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设备简介1.产品无序抓取,自动识别正反2.自动更换料盘3.自动测试,良品/不良品分类4.换产只需更换对应的工装5.仪器功能可拓展应用行业半导体、IC、PCBA、芯片等产品的自动测试。生产效率UPH≥1000PCS
智能盖板切割设备
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设备简介1.料框供料,一筐料可满足设备运行一小时,换料时间短;2.自动裁切,视觉自动识别OK/NG;3.机械手下料,将0K/NG摆放至对应淬盘;4.OK/NG盘自动上下料,装满后自动换盘;5.替代人工作业,降低劳动强度和人工作业的...